Aktualności

Komora klimatyczna HPP 749Informujemy o możliwości zakupu używanej komory klimatycznej Memmert HPP 749. więcej »

Klimatest Laboratorium WzorcująceMiło nam Państwu zakomunikować, że podczas ostatniej oceny przeprowadzonej przez PCA, Klimatest Laboratorium Wzorcujące rozszerzyło zakres wykonywanych wzorcowań zgodnie z normą PN-EN ISO/IEC 17025. Zobacz szczegółową informację na temat możliwości naszego Laboratorium Wzorcującego. więcej »

Katalog produktów
Jesteś w: » katalog » Pomiar połysku

Połyskomierz miniaturowy ZGM1120

dostawca/producent:Zehntner
grupa urządzeń:Połyskomierze przenośne
zastosowanie:Pomiar połysku
Połyskomierz miniaturowy ZGM1120

Miernik ZGM 1120 to połyskomierz nowej generacji, podłączany bezpośrednio do komputera PC poprzez port USB. Miernik może mierzyć w bardzo szerokim zakresie - od powierzchni matowych do materiałów o wysokim połysku.

 
Właściwości:
  • Niewielkie rozmiary pozwalające na pomiar na małej powierzchni, także na powierzchniach zakrzywionych,
  • Trzy kąty pomiaru: 20, 60 i 85°,
  • Wersje z jednym, dwoma lub trzema kątami pomiaru,
  • Podłączany bezpośrednio do portu USB, nie wymaga zasilania,
  • Pomiary przy pomocy oprogramowania „Gloos Tools”,
  • Cyfrowe i graficzne przedstawienie wyników, możliwość ustawienia limitów DOBRY/ZŁY do seryjnych pomiarów w kontroli jakości,
  • Wbudowane funkcje statystyczne,
  • Eksport wyników do MS Excel,
  • Wymiary: 99 x 15 x 56 mm, waga 117 g.
Miernik dostarczany jest z następującym wyposażeniem:
  • Roboczy wzorzec połysku,
  • Przewód USB,
  • Oprogramowanie Gloss Tools,
  • Certyfikat producenta i certyfikat kalibracji,
  • Walizeczka.

Zobacz inne mierniki połysku firmy Zehntner

Spełniane normy:

PN-EN ISO 2813:2001 Farby i lakiery. Oznaczanie połysku zwierciadlanego niemetalicznych powłok lakierowych pod kątem 20 stopni, 60 stopni i 85 stopni

PN-EN 12373-11:2004 Aluminium i stopy aluminium. Utlenianie anodowe. Część 11: Pomiar współczynnika odbicia i połysku anodowych powłok tlenkowych pod kątami 20 stopni, 45 stopni, 60 stopni lub 85 stopni.

PN-EN 13523-2:2002 Metale powlekane metodą ciągłą. Metody badań. Część 2: Połysk zwierciadlany.

ISO 2813, 7668, EN ISO 2813, EN 12373-11, prEN 13523-2, ASTM C346, D523, D1223, D2457, DIN 54502, 67530, JIS Z 874.1, ECCA T2, TAPPI T 480.

Dodatkowe zdjęcia produktu:

Połyskomierz 2-kątowyFot. 1. Połyskomierz ZGM 1120 do pomiaru przy 2 kątach

Połyskomierz 3-kątowyFot. 2. Połyskomierz ZGM 1120 do pomiaru przy 3 kątach

Połyskomierz według normy TAPPIFot. 3. Połyskomierz ZGM 1120 do pomiaru papieru zgodnie z normą TAPPI T480

Pomiar połyskuFot. 4. Pomiar połysku na małych elementach