Szukaj w zasobach klimatest:
Urządzenia według producentów:
Urządzenia według typu:
Urządzenia według zastosowań:
Uwaga! Nowy adres siedziby we Wrocławiu! Uwaga!

Uniwersalny miernik grubości powłok

dostawca/producent:Karl Deutsch
grupa urządzeń:Mierniki grubości powłok
zastosowanie:Pomiar grubości powłok
zdjecie

Leptoskop® 2042 firmy Karl Deutsch to uniwersalny miernik grubości powłok. W zależności od użytej sondy pomiarowej miernik może mierzyć grubości:

 
Właściwości:
  • Bardzo duży wybór sond pomiarowych, sondy miniaturowe do pomiaru na małych powierzchniach i w miejscach trudno dostępnych,
  • Automatyczne rozpoznawanie zainstalowanej sondy,
  • Prosta obsługa w systemie menu,
  • Duża pamięć na wyniki pomiarów,
  • Duży podświetlany wyświetlacz LCD,
  • Wbudowane funkcje statystyczne dla serii pomiarów – wyświetlanie wartości minimum i maksimum, wartości średniej, odchylenia standardowego i.t.d.,
  • Interfejs po przesyłania wyników na komputer PC lub drukarkę,
  • Dwupunktowa kalibracja, możliwa specjalna kalibracja, gdy dostępne jest podłoże, które nie jest pokrywane,
  • Zasilanie z baterii lub sieci.
Specyfikacja techniczna :
  • Zakres pomiaru od 0 do 20 mm w zależności od użytej sondy,
  • Pomiar na podłożach magnetycznych (PN EN ISO 2178) lub na przewodzących podłożach niemagnetycznych (PN EN ISO 2360),
  • Dokładność pomiaru 1 % +/- 1 μm dla warstw < 100 μm, 1 do 3 % +/- 1 μm dla warstw > 100 μm, 1 do 5 % +/- 10 μm dla warstw > 1000 μm, 1 do 5 % +/- 100 μm dla warstw > 10000 μm,
  • Jednostki - μm, mm lub mils,
  • Pamięć na 7700 wyników z podziałem na 600 grup,
  • Interfejs RS232,
  • Zasilanie z 2 baterii alkalicznych z łącznym czasem pracy 26 godzin lub zasilanie z sieci,
  • Wymiary 83 x 151 x 35 mm, masa 264 gramy.
Przykłady sond pomiarowych: Sonda pomiarowa Sonda pomiarowa Sonda pomiarowa
Spełniane normy:

PN-EN ISO 2360:2006 Powłoki nieprzewodzące na podłożach niemagnetycznych przewodzących elektrycznie -- Pomiar grubości powłok -- Amplitudowa metoda prądów wirowych.
PN-EN ISO 2178:1998 Powłoki niemagnetyczne na podłożu magnetycznym -- Pomiar grubości powłok -- Metoda magnetyczna.