Jesteś w: » katalog » Karl Deutsch
Kieszonkowe mierniki grubości powłok
| dostawca/producent: | Karl Deutsch |
| grupa urządzeń: | Mierniki grubości powłok |
| zastosowanie: | Pomiar grubości powłok |
Nowa generacja kieszonkowych mierników grubości pokryć LEPTOSKOP® firmy Karl Deutsch ma własności, które wyróżniają ją spośród wielu tego typu dostępnych na rynku urządzeń:
- Minimalne wymiary – 47x95x17 mm i waga - 70 g,
- Możliwość odwrócenia odczytu na wyświetlaczu, co znacznie ułatwia pomiar przy ustawieniu miernika „do góry nogami”,
- Symulacja analogowego odczytu na cyfrowym wyświetlaczu z ustawianiem dopuszczalnego zakresu tolerancji – na pierwszy rzut oka widać, czy mierzona wartość mieści się w dopuszczalnym zakresie.
Właściwości:
- Ciekłokrystaliczny wyświetlacz z dużymi, dobrze widocznymi cyframi z możliwością podświetlenia,
- Dokładny pomiar nawet w trudno dostępnych miejscach,
- Możliwość odwrócenia obrazu na wyświetlaczu ułatwiająca odczyt przy obróconym mierniku,
- Łatwa nawigacja w systemie menu bardzo podobna do tej, jaka używana jest w telefonach komórkowych,
- Możliwość wyboru języka,
- Zasilanie z jednej baterii typu AAA,
- Wskaźnik zużycie baterii.
Miernik dostępny jest w trzech różnych wersjach:
- Pocket-LEPTOSKOP® 2018 (NFe) - do pomiarów nieprzewodzących pokryć na niemagnetycznych, przewodzących podłożach takich jak aluminium, miedź, mosiądz. Pomiar wykonywany jest z wykorzystaniem zjawiska prądów wirowych zgodnie z normą PN-EN ISO 2360:2006
- Pocket-LEPTOSKOP® 2021 (Fe) - do pomiarów niemagnetycznych pokryć na podłożach magnetycznych (żelazo, stal) przy wykorzystaniu zjawiska indukcji magnetycznej zgodnie z normą PN-EN ISO 2178:1998
- Pocket-LEPTOSKOP® 2026 (Fe/NFe) - miernik z uniwersalną sondą mierzący obiema wymienionymi wyżej metodami. Rodzaj podłoża wykrywany jest automatycznie.
ZOBACZ ZDJĘCIA Specyfikacja techniczna:
- Zakres pomiaru 1200 µm dla sondy NFe i 3000 µm dla sondy Fe,
- Dokładność pomiaru 1 % +/- 1.5 µm dla warstw o grubości < 100 µm, 1 do 3 % +/- 1 µm dla warstw od 100 do 1200 µm, od 3 do 5 % +/- 1 µm dla warstw o grubości > 1200 µm,
- Kalibracja jedno lub dwupunktowa - wzorce kalibracyjne zawarte w wyposażeniu miernika,
- Dowolny wybór jednostek: µm, mm, mils lub cale
- Interfejs RS232,
- Zasilanie z baterii alkalicznej (AAA),
- Wyświetlacz LCD z podświetlaniem, obszar odczytu 25 x 16 mm,
- Czas pracy z baterią ok. 70 godzin (przy wyłączonym podświetlaniu), wizualna i dźwiękowa sygnalizacja niskiego napięcia baterii,
- Wymiary 48 x 94 x 17 mm, waga 70 gramów,
- Zakres temperatur pracy od 0 do +45 °C.
Spełniane normy:
PN-EN ISO 2360:2006 Powłoki nieprzewodzące na podłożach niemagnetycznych przewodzących elektrycznie -- Pomiar grubości powłok -- Amplitudowa metoda prądów wirowych.
PN-EN ISO 2178:1998 Powłoki niemagnetyczne na podłożu magnetycznym -- Pomiar grubości powłok -- Metoda magnetyczna.
Opcje wyposażenia:
Statystyki i pamięć wyników - limity i offset
Statystyki i pamięć wyników - limity i offset
- Ustawiane dolny i górny limit,
- Ustawiany offset,
- Proste wpisanie wartości,
- Możliwość zablokowania klawiatury przed nieuprawnionym dostępem i przypadkowym zmianom ustawień.
- Wyświetlanie wartości minimum, maksimum, ilości pomiarów oraz wartości średniej,
- Pamięć na 800 odczytów,
- Graficzna prezentacja wyników.
- Możliwość włączenia odczytu analogowe na wyświetlaczu, co pozwala na szybką ocenę wyniku pomiaru,
- Wybór zakresu: automatyczny lub o stałej wielkości.
- Przesyłanie wyników do komputera PC i ich obróbka przy użyciu programu STATWIN2002.
